Residual Stress Analysis using ION-C Device
Residual Stress Analysis using ION-C Device
Velikost:
2.90 MB
Autor:
Jaroslav Václavík, Petr Bohdan, Stanislav Holý, Otakar Weinberg
Datum:
22. prosinec 2017
Autor:
Jaroslav Václavík, Petr Bohdan, Stanislav Holý, Otakar Weinberg